Klasyfikacja spektralna a skale pomiaru zmiennych
Loading...
2012_Walesiak_Przeglad_Statystyczny_z_1.pdf (456.5 KB)
Authors
Date
2012
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Komitet Statystyki i Ekonometrii PAN
Using this material is possible in accordance with the relevant provisions of fair use or other exceptions provided by law. Other use requires the consent of the holder.
Abstract
W artykule zaproponowano modyfikację metody klasyfikacji spektralnej (zob. Ng, Jordan i Weiss [2002]) umożliwiającą jej zastosowanie w klasyfikacji danych nominalnych, porządkowych, przedziałowych oraz ilorazowych. W tym celu w procedurze tej metody przy wyznaczaniu macierzy podobieństwa (affinity matrix) zastosowano funkcję Aik = exp(−σ · dik) (σ – parametr skali) z miarami odległości dik właściwymi dla danych mierzonych na różnych skalach pomiaru. Takie podejście umożliwia ponadto pośrednie wzmocnienie skali pomiaru zmiennych dla danych niemetrycznych. Zaproponowana metoda klasyfikacji spektralnej może być z powodzeniem stosowana we wszystkich zagadnieniach klasyfikacyjnych, w tym dotyczących pomiaru, analizy i wizualizacji preferencji.