Pokaż uproszczony rekord

dc.contributor.authorWalesiak, Marek
dc.date.accessioned2013-03-09T22:09:22Z
dc.date.available2013-03-09T22:09:22Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.urihttp://depot.ceon.pl/handle/123456789/1043
dc.description.abstractW artykule zaproponowano modyfikację metody klasyfikacji spektralnej (zob. Ng, Jordan i Weiss [2002]) umożliwiającą jej zastosowanie w klasyfikacji danych nominalnych, porządkowych, przedziałowych oraz ilorazowych. W tym celu w procedurze tej metody przy wyznaczaniu macierzy podobieństwa (affinity matrix) zastosowano funkcję Aik = exp(−σ · dik) (σ – parametr skali) z miarami odległości dik właściwymi dla danych mierzonych na różnych skalach pomiaru. Takie podejście umożliwia ponadto pośrednie wzmocnienie skali pomiaru zmiennych dla danych niemetrycznych. Zaproponowana metoda klasyfikacji spektralnej może być z powodzeniem stosowana we wszystkich zagadnieniach klasyfikacyjnych, w tym dotyczących pomiaru, analizy i wizualizacji preferencji.pl
dc.language.isoplpl
dc.publisherKomitet Statystyki i Ekonometrii PANpl
dc.rightsDozwolony użytek
dc.subjectskale pomiarupl
dc.subjectmiary odległościpl
dc.subjectklasyfikacja spektralnapl
dc.titleKlasyfikacja spektralna a skale pomiaru zmiennychpl
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlepl
dc.contributor.organizationUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiupl
dc.description.epersonMarek Walesiak


Pliki tej pozycji

Thumbnail

Pozycja umieszczona jest w następujących kolekcjach

Pokaż uproszczony rekord

Dozwolony użytek
Korzystanie z tego materiału jest możliwe zgodnie z właściwymi przepisami o dozwolonym użytku lub o innych wyjątkach przewidzianych w przepisach prawa, a korzystanie w szerszym zakresie wymaga uzyskania zgody uprawnionego.