Klasyfikacja spektralna a skale pomiaru zmiennych
dc.contributor.author | Walesiak, Marek | |
dc.date.accessioned | 2013-03-09T22:09:22Z | |
dc.date.available | 2013-03-09T22:09:22Z | |
dc.date.issued | 2012 | |
dc.identifier.uri | http://depot.ceon.pl/handle/123456789/1043 | |
dc.description.abstract | W artykule zaproponowano modyfikację metody klasyfikacji spektralnej (zob. Ng, Jordan i Weiss [2002]) umożliwiającą jej zastosowanie w klasyfikacji danych nominalnych, porządkowych, przedziałowych oraz ilorazowych. W tym celu w procedurze tej metody przy wyznaczaniu macierzy podobieństwa (affinity matrix) zastosowano funkcję Aik = exp(−σ · dik) (σ – parametr skali) z miarami odległości dik właściwymi dla danych mierzonych na różnych skalach pomiaru. Takie podejście umożliwia ponadto pośrednie wzmocnienie skali pomiaru zmiennych dla danych niemetrycznych. Zaproponowana metoda klasyfikacji spektralnej może być z powodzeniem stosowana we wszystkich zagadnieniach klasyfikacyjnych, w tym dotyczących pomiaru, analizy i wizualizacji preferencji. | pl |
dc.language.iso | pl | pl |
dc.publisher | Komitet Statystyki i Ekonometrii PAN | pl |
dc.rights | Dozwolony użytek | |
dc.subject | skale pomiaru | pl |
dc.subject | miary odległości | pl |
dc.subject | klasyfikacja spektralna | pl |
dc.title | Klasyfikacja spektralna a skale pomiaru zmiennych | pl |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | pl |
dc.contributor.organization | Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu | pl |
dc.description.eperson | Marek Walesiak |
Pliki tej pozycji
Pozycja umieszczona jest w następujących kolekcjach
-
Artykuły / Articles [16126]
Korzystanie z tego materiału jest możliwe zgodnie z właściwymi przepisami o dozwolonym użytku lub o innych wyjątkach przewidzianych w przepisach prawa, a korzystanie w szerszym zakresie wymaga uzyskania zgody uprawnionego.