Show simple item record

dc.contributor.authorWalesiak, Marek
dc.date.accessioned2013-03-09T22:09:22Z
dc.date.available2013-03-09T22:09:22Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.urihttp://depot.ceon.pl/handle/123456789/1043
dc.description.abstractW artykule zaproponowano modyfikację metody klasyfikacji spektralnej (zob. Ng, Jordan i Weiss [2002]) umożliwiającą jej zastosowanie w klasyfikacji danych nominalnych, porządkowych, przedziałowych oraz ilorazowych. W tym celu w procedurze tej metody przy wyznaczaniu macierzy podobieństwa (affinity matrix) zastosowano funkcję Aik = exp(−σ · dik) (σ – parametr skali) z miarami odległości dik właściwymi dla danych mierzonych na różnych skalach pomiaru. Takie podejście umożliwia ponadto pośrednie wzmocnienie skali pomiaru zmiennych dla danych niemetrycznych. Zaproponowana metoda klasyfikacji spektralnej może być z powodzeniem stosowana we wszystkich zagadnieniach klasyfikacyjnych, w tym dotyczących pomiaru, analizy i wizualizacji preferencji.pl
dc.language.isoplpl
dc.publisherKomitet Statystyki i Ekonometrii PANpl
dc.rightsDozwolony użytek
dc.subjectskale pomiarupl
dc.subjectmiary odległościpl
dc.subjectklasyfikacja spektralnapl
dc.titleKlasyfikacja spektralna a skale pomiaru zmiennychpl
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlepl
dc.contributor.organizationUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiupl
dc.description.epersonMarek Walesiak


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Dozwolony użytek
Using this material is possible in accordance with the relevant provisions of fair use or other exceptions provided by law. Other use requires the consent of the holder.